Herramienta de inspección para microelectrónica de precisión
Este sistema de microscopía industrial proporciona las prestaciones requeridas para la evaluación de fallos en componentes montados en superficie. Adecuado tanto para la revisión de circuitos impresos como para tareas de precisión en micromecánica, su configuración óptica binocular resalta los detalles del relieve de las piezas inspeccionadas. El intercambio de aumentos permite alternar entre una vista panorámica de la placa y un análisis detallado de componentes individuales.
Rendimiento consistente en entornos de producción
La solidez de sus componentes mecánicos garantiza un ajuste de enfoque constante, evitando desajustes durante el uso continuo en líneas de montaje o estaciones de servicio técnico técnico.
- Compatibilidad de inspección: Ideal para placas de teléfonos móviles, tabletas y joyería fina.
- Óptica nítida: Recubrimientos antirreflejos que mejoran la transmisión de luz en la muestra.
| Configuración óptica | Estereoscópica con oculares de amplio campo |
| Objetivos incluidos | 2x y 4x rotativos |
| Campo visual | Amplio para un posicionamiento cómodo de la muestra |
